通過簡單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布

移動到指定位置，可實(shí)時確認(rèn)其譜圖

雙屏顯示

僅需選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時，實(shí)時顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。

超高的性能（hyper map）成就了一次測試即可獲取點(diǎn)分析、線分析、面分布結(jié)果

點(diǎn)分析

可根據(jù)點(diǎn)位置移動實(shí)時追蹤譜圖，輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。

實(shí)時在線譜峰剝離面分布

分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素，并顯示正確結(jié)果。

• 項(xiàng)目	內(nèi)容
  探測器類型	硅漂移探測器
  探測器面積	30 mm2
  能量分辨率	148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα?xí)r不高于129 eV)
  可檢測元素	B5～Cf98