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日本日立HITACHI日立超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電鏡SU7000,重慶強(qiáng)勢供應(yīng)

日期:2025-02-05 08:28
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摘要:日本日立HITACHI日立超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電鏡SU7000,重慶強(qiáng)勢供應(yīng) 日本日立HITACHI日立超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電鏡SU7000,重慶強(qiáng)勢供應(yīng)
日本日立HITACHI超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電鏡SU7000  的詳細(xì)介紹

核心理念

  1. 采用優(yōu)異的成像技術(shù)
    SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細(xì)結(jié)構(gòu)等多種檢測信號。全新設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)和檢測系統(tǒng),使得裝置可以同時接收二次電子和背散射電子等信號,用戶可以在短時間內(nèi)獲得更**的樣品信息。
  2. 采用多通道成像技術(shù)
    隨著用戶對成像需求的不斷增長,SU7000特新增了幾種探測器,還引進(jìn)了相應(yīng)的成像功能。SU7000多可同時顯示和保存6通道信號。實現(xiàn)了獲得樣品信息的 大化。
  3. 支持不同形狀樣品、多種觀察方法
    ?大型樣品觀察
    ?低真空觀察
    ?超低溫觀察
    ?實時觀察
    等所需的樣品倉和真空系統(tǒng)都十分完備,觀察方法也是一應(yīng)俱全。
  4. 支持微納解析
    采用肖特基發(fā)射電子槍, 大束流可達(dá)到200 nA,適用于各種微納解析。樣品倉形狀和接口設(shè)置支持EDX分析、EBSD、陰極熒光分析等,接口設(shè)備可通過選配附件滿足各種特殊需求。

成像能力

追求信息 大化的檢測系統(tǒng)

隨著用戶對樣品數(shù)據(jù)的需求更加多元化,對檢測系統(tǒng)在短時間內(nèi)捕捉更多的信息提出了更高的要求。SU7000的檢測系統(tǒng)可以在不改變WD等條件的前提下,更高效地獲取形貌、成分、晶體學(xué)以及發(fā)光等信息。真正實現(xiàn)了更快速、更**的信息收集。

同一條件觀察

樣品:包裹有機(jī)物的金屬棒

樣品提供:Vassar College, Chemistry Dept. 
Mr. Smart and Ms. Pineda

通過UD、MD、LD探測器同時采集信號的應(yīng)用實例 (加速電壓:1 kV)
通過UD、MD、LD探測器可以同時采集信號,UD可獲取表面微細(xì)形狀信息,MD可獲取表面有機(jī)物包覆狀態(tài)信息,LD可獲取整體凹凸形貌信息。在同一個條件下,實現(xiàn)了獲取信息的 大化。

采用可多通道顯示的GUI設(shè)計

優(yōu)化信號顯示功能

    成像單元在信號顯示上也作了全新升級。
  • 用戶可根據(jù)觀察需求,選擇不同的視場角和通道數(shù)。
  • 單屏 多可同時顯示4通道信號。
  • 導(dǎo)航功能(SEM MAP)可以輕松捕捉到顯示樣品倉內(nèi)信息的CCD相機(jī)圖像和相機(jī)拍攝到的樣品圖像,快速顯示目標(biāo)圖像。
  • 使用雙屏顯示時,可在一個顯示屏上雙通道顯示1,280×960像素的圖像,另一個顯示屏專門用來顯示信號, 多可同時顯示6通道信號。

高自由度的界面布局

使用單屏?xí)r,可以單通道、雙通道、四通道顯示樣品信息,也可以顯示CCD相機(jī)圖像、樣品臺圖像/SEM MAP圖像等。而且操作畫面上的工具欄可以任意移動、添加和刪除。

支持雙屏顯示

1st顯示屏專門用來顯示圖像,2nd顯示屏用來顯示操作面板畫面。上圖左圖(1st顯示屏)是通過SU7000觀察到的鋼鐵中非金屬夾雜物的圖片。圖中清晰呈現(xiàn)出UD、LD、UVD、MD、PD-BSED5個探測器捕捉到的圖像以及SEM MAP圖。右圖(2nd顯示屏)將操作面板菜單和圖像歷史記錄窗口在同一個畫面中顯示,界面布局清晰明了。在實現(xiàn)實時監(jiān)控圖像的同時,操作性能也得到了進(jìn)一步提升。

可擴(kuò)展觀察和分析方法

樣品倉和馬達(dá)臺


樣品倉外觀
標(biāo)配18個附件接口


馬達(dá)臺外觀
XY軸可移動距離為135×100 mm

樣品倉可搭載 大直徑為φ 250 mm; 高80 mm的樣品。大開倉設(shè)計,標(biāo)配18個附件接口。樣品臺可搭載XY軸 大移動距離為135×100 mm, 重2 kg的樣品。搭載大型樣品和功能樣品臺完全不成問題。

相機(jī)導(dǎo)航功能(*)

通過相機(jī)拍攝樣品

將相機(jī)拍攝到的圖像顯示到SEM MAP畫面上進(jìn)行導(dǎo)航

SU7000可選配導(dǎo)航相機(jī)(*),迅速鎖定要觀察的位置。相機(jī)安裝在樣品倉內(nèi),插入樣品后,可半自動拍攝樣品的整體圖像。該圖像會被顯示到導(dǎo)航畫面(SEM MAP)窗口,因此,用戶可以觀察窗口中的圖像判斷位置。 大適用尺寸為φ 100 mm。

(*)
可選配相機(jī)。

支持動態(tài)觀察的檢測系統(tǒng)

SU7000可用于環(huán)境改變的動態(tài)觀察。低真空觀察時,可以選用PD-BSED(背散射電子探測器)、UVD、MD等各種探測器(**)。

低真空環(huán)境的探測器選擇
左圖為通過MD(背散射電子),右圖為通過UVD(二次電子)探測器觀察到的金屬氧化物纖維的情況。兩張圖分別清晰地呈現(xiàn)出氧化物的分散狀態(tài)和纖維的堆積情況。

PD-BSED:響應(yīng)速度提高
左圖是以一般的響應(yīng)速度,約每兩秒掃描一次得到的圖像;右圖抑制了圖像的漂移,使得整體的畫質(zhì)得到了大幅提升。隨著響應(yīng)速度的提高,更適用于In-Situ觀察。

(**)
可選配PD-BSED、UVD。

項目 內(nèi)容
圖像分辨率 二次電子分辨率 0.8 nm/15 kV
0.9 nm/1 kV
放大倍率 20~2,000,000 x
電子槍 發(fā)射體 ZrO/W熱場發(fā)射(肖特基熱場發(fā)射)
加速電壓 0.1~30 kV (步進(jìn):0.01 kV)
束流 大200 nA
探測器 標(biāo)準(zhǔn)探測器 UD (上探測器)
MD (中探測器)
LD (下探測器)
選配探測器*1 PD-BSED (半導(dǎo)體式背散射電子探測器)
UVD(高靈敏度低真空探測器 )
低真空模式*1 樣品倉壓力范圍 5~300 Pa
可使用探測器 PD-BSED, UVD, UD, MD, LD
馬達(dá)臺 馬達(dá)臺控制 5軸馬達(dá)驅(qū)動
移動范圍 X 0~135 mm
Y 0~100 mm
Z(WD) 1.5~40 mm
T(傾斜角) -5~70°
R(旋轉(zhuǎn)角) 360°
樣品尺寸 大直徑:φ200 mm, 大高度:80 mm
顯示器*1 23英寸LCD (1,920×1,080), 支持雙屏
圖像顯示模式 全屏顯示模式 1,280×960像素顯示
單屏顯示模式 800×600像素顯示
雙屏顯示模式 800×600像素顯示、1,280×960像素顯示 *2
四屏顯示模式 640×480像素顯示
六屏顯示模式*2 640×480像素顯示 *2
圖像數(shù)據(jù)保存 保存圖像尺寸 640×480、1,280×960、2,560×1,920、5,120×3,840、10,240×7,680
選配附件 能譜儀(EDX)
X射線波譜儀(WDX)
電子背散射衍射(EBSD)
陰極熒光探測器(CL)
冷凍傳輸系統(tǒng)
各種功能樣品臺
*1
為選配項。
*2
支持雙屏顯示。

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