Jandel公司提供的RM300測試單元結(jié)合可調(diào)節(jié)高度支架探頭,可為各種各樣的測量提供解決方案.

這種組合方式是目前jandel公司*受歡迎的產(chǎn)品.

該系統(tǒng)可用于測量各種薄層的小尺寸樣本以及直徑300mm高250mm的晶圓錠 (檢測厚樣品之前要咨詢)。

	Jandel圓柱四點(diǎn)探測 Jandel圓柱形探頭適用于由Four Dimensions制造的Jandel設(shè)備和設(shè)備。 如果需要，此探頭可與適配器一起使用，以供買方制造的設(shè)備使用。
可測晶片直徑	D≤250mm，（可選配D≤300mm，無需付費(fèi)）
可測晶片厚度	H≤250mm,(可更厚，請咨詢)
微動(dòng)開關(guān)	防止探針不與樣品接觸時(shí)的電流流動(dòng)
手動(dòng)控制	探針接觸和移動(dòng)的簡單杠桿操作
裝配簡單	RM300和四探針探頭通過單線連接

系統(tǒng)配置

組成部件：

1. 1.測試臺(tái)一個(gè)

2. 2.可調(diào)節(jié)高度主機(jī)一臺(tái)

3. 3.可調(diào)節(jié)高度軸桿一根

4. 4.四探針探頭一個(gè)

5. 5.連接電纜一根

設(shè)備尺寸：

可調(diào)節(jié)高度測試臺(tái)： W×L×H（mm）250×290×8（320×370×8，可選）

可調(diào)節(jié)高度探頭組件：W×L×H（mm）60×280×80（60×330×80，可選）

可調(diào)節(jié)高度的軸桿:D（mm）19；L（mm）200（可定制*高高度到1000mm）

型號(hào)	針尖角（u）	壓力（g）	間距（mm）
A	40	100	1
B	100	100	1
C	200	100	1
D	500	70	1
E	40	200	1.591
F	40	100	0.635
G	100	100	0.635
H	200	100	0.635
A-D型號(hào)和E-H型號(hào) 英國Jandel通用型四探針測試儀(China)販売店Nishizaki西崎商社 英國Jandel通用型四探針測試儀(China)販売店Nishizaki西崎商社 英國Jandel通用型四探針測試儀(China)販売店Nishizaki西崎商社 英國Jandel通用型四探針測試儀(China)販売店Nishizaki西崎商社

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